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高效检 测不规则及表面反光物体的漫反射式传感器

2017-04-19

  图尔克 推出新的漫反射式传感器-QS30ELVC-用于检测计量透明、半透明和非透明物体。是由图 尔克战略合作伙伴Banner公司开发的,可高效 检测不规则物体或表面反光的物体。

高效检
测不规则及表面反光物体的漫反射式传感器

        QS30ELVC漫反射式传感器500ms响应时 间使传感器可以完美地应用于制药工业,食品工业(例如感 应半透明的塑料包装),半导体 工业和电子工业。

        自动化 计算装置使具有IP67防护等级的QS30ELVC漫反射 式传感器依然可以应用在粉尘污染,环境温 度变化的恶劣环境中。

        QS30ELVC漫反射 式传感器提供三种可选择阀门,优化安 装方式和检测范围。传感器 的设置与传感器安装同样简单易操作,通过按 钮可以设定开关点。



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